TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。

IWATSU 半导体参数分析仪 CS-3100/3200/3300 IGBT曲线图示 日本岩通计测

产品型号：CS-3000/3200/3300      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,最大峰值电压：3000V，最大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数,。

IWATSU CS-5100，CS5200，CS5300，CS5400功率半导体I-V静态参数图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-5100/5200/5300/5400      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：用于测试IGBT,VDMOS等功率半导体的静态参数仪器，是目前市面上唯一一款能够全面替代TEKTRONIC 370系列图示仪的产品。

IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-8500      原产地：      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：可与多种单元组合，支持任何工序的特性评估，适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA，备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能，大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。

Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台

产品型号：α-300       原产地：日本      所属类别：标准手动探针台

产品简介：12英寸及以下晶圆或芯片WAFER 测试

替代是德B1505 集成电路半导体参数分析仪曲线测试仪 IWATSU CS-8000系列

产品型号：CS-8000      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：■最大5kV，最大2000A时的高功率测试 ■精确的微电流测量 （分辨率250fA） ■大屏幕12.1英寸触摸屏 ■多种GATE信号输出功能 ■丰富的温度特性测量选项 ■在探针台上进行高功率晶片测试

Cascade TESLA 200 美博 大功率8英寸半自动探针台

产品型号：TESLA 200       原产地：美国      所属类别：半自动探针台

产品简介：TESLA 系列专门为新型功率器件的开发与生产品质检查而开发，特别适合于高电压，大电流 的功率型器件和晶圆的测试方向 。

IWATSU CS-8200 GaN/SiC半导体参数分析曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-8000      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：采用模块式设计，电压高达2KV可调，电流达2000A 可选，最小电流分辨率优于250fA.