IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8500 原产地: 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:可与多种单元组合,支持任何工序的特性评估,适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA,备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能,大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
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IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8500 原产地: 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:可与多种单元组合,支持任何工序的特性评估,适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA,备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能,大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
Keithley SMU2650系列2651A/26527A高功率 SourceMeter® 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2651A/26527A 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:2650 系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件(例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件)的检定和测试而设计。 它们提供前所未有的功率、精度、速度、灵活性、易用性,可提高研发、生产测试和可靠性环境...
Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台
产品型号:α-300 原产地:日本 所属类别:标准手动探针台
产品简介:12英寸及以下晶圆或芯片WAFER 测试
Apollowave a-300CS阿波罗 -60/350度高低温 RF 手动探针台系统
产品型号:a-300CS 原产地:日本 所属类别:射频微波探针台
产品简介:可以对应最大12英寸晶圆,温度-60至+350度的高频率小漏电级测试,同时支持定制RF探针卡
替代是德B1505 集成电路半导体参数分析仪曲线测试仪 IWATSU CS-8000系列
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:■最大5kV,最大2000A时的高功率测试 ■精确的微电流测量 (分辨率250fA) ■大屏幕12.1英寸触摸屏 ■多种GATE信号输出功能 ■丰富的温度特性测量选项 ■在探针台上进行高功率晶片测试
Keithley 2400图形化系列2450/2460/2461/2470 SMU仪器四象限精密电压和电流源/负载 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2450/2460/2461/2470 原产地:美国 所属类别:SMU源表
产品简介:Keithley 2400 图形化系列 SMU 仪器提供四象限精密电压和电流源/负载,外加直观触摸屏用户界面上的测量。这些仪器可同时提供 10 fA - 10 A 脉冲电流和/或 100nV - 200V 电压(实现 1000W 脉冲和 100W 直流总功率)并对其进行测量,从而使用户可以 Touch,Test,Invent®(触摸、测试、创新)。
Cascade E/MPS150TRIAX 美博6英寸高通用经济型探针台
产品型号:E/MPS150TRIAX 原产地:美国 所属类别:标准手动探针台
产品简介:EPS150TRIAX是一款专为低噪声fA级电流/fC级电容晶圆测量表征而研发打造的6英寸手动探针台。配置低噪声TRIAX卡盘、TRIAXL探针臂、探针以及电缆,支持开尔文连接,为晶圆、碎片以及单粒Die的高精度I-V/C-V测量表征提供了很大的信心。
Cascade TESLA300 美博 大功率12英寸半自动探针台
产品型号:TESLA 300 原产地:美国 所属类别:半自动探针台
产品简介:TESLA 系列专门为新型功率器件的开发与生产品质检查而开发,特别适合于高电压,大电流 的功率型器件和晶圆的测试方向 。