IWATSU CS-8200 GaN/SiC半导体参数分析曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:采用模块式设计,电压高达2KV可调,电流达2000A 可选,最小电流分辨率优于250fA.
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IWATSU CS-8200 GaN/SiC半导体参数分析曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:采用模块式设计,电压高达2KV可调,电流达2000A 可选,最小电流分辨率优于250fA.
联讯 S3030F 高压源表±3500V、±120mA输出能力
产品型号:S3030F 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:联讯 S3030F是结构紧凑、经济高效的单通道高电压、高功率电源/测量单元,能够同时输出和测量电压和电流, 能够提供最大±3500V、±120mA(直流)、10 GΩ、180W功率输出,能广泛地应用在功率半导体特性,GaN、SiC表征,复合材料,高压漏电流等测试和研究领域。S3030F支持传统的SMU SCPI命令,让测试代码的迁移变得轻...
高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号:WAT-200KA 原产地:日本 所属类别:WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介:本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的,对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试,系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试,IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
PD-200X 多用途双脉冲(DPT)器件动态参数分析系统
产品型号:PD-200X 原产地:中国 所属类别:动态参数测试系统
产品简介:PD-200X 是由捷创仪器深度开发的多用途功率器件动态参数测试分析系统,系统采用最小回路结构保证系统Ls<20nH ,模块化设备,极佳的仪器与探头兼容性,高冗余安全性确保高压大电流测试器件与人员安全。目前最具性价比的双脉冲测试系统,特别适合大学,研究,初创型半导体企业。
VITREK 98x Teraohmmeter 太欧表/绝缘电阻 (IR) 测试仪
产品型号:98X 原产地:美国 USA 所属类别:安规测试仪(ACI/DCI/IR/GB)
产品简介:98x 系列太欧表满足当今对更高电压 IR(绝缘电阻)测试的苛刻要求。在永无止境的更高效率竞赛中,电动汽车和太阳能电池板阵列现在以高达 2.5 KV 的电压轨运行。这里不适合 1 KV 测试仪,是时候升级到 Vitrek 98x 了,对于需要对多根导体进行绝缘电阻测试的应用,Vitrek 98×1 红外测试仪能够直接控制多达 4...
VITREK 95X Series Hipot Testers AC-DC-IR-GB 耐压仪
产品型号: 原产地: 所属类别:安规测试仪(ACI/DCI/IR/GB)
产品简介:功率和多功能性,适用于最苛刻的电气安全测试应用Vitrek 采用 DSP 技术从头开始构建 95X 系列,为您带来最安全、最快速、功能最强大、功能丰富的耐压测试仪。95X系列结合了高输出功率、宽范围的交流和直流电压输出以及极低的漏电流测量。然后,我们添加了一个动态范围高达 100K 欧姆的 4 线毫欧表和一个重叠的太...
PMK 高压差分探头系列 HORNET® 4000Vrms 适合SiC模块双脉冲评价
产品型号: 原产地: 所属类别:高低压差分探头
产品简介:最先进的高压差分探头系列HORNET®将±4000V差分和共模电压输入范围与出色的>300MHz带宽相结合,成为满足宽带隙电力电子设计日益增长的需求的一流解决方案,例如SiC技术的高速高压开关器件的双脉冲测试,以及IGBT的测试。 晶闸管、快速开关高压二极管等。
赛恩科仪SSI OE4201隔离式电流源100kHz带宽电压控制电流源
产品型号:OE4201 原产地:中国 所属类别:精密低噪声直流电源
产品简介:输入与输出浮地隔离设计1Hz~100kHz输出带宽2mA/V与200mA/V两个输出档位输入电压范围5mVrms~0.5Vrms最大输出电流100mA