联讯 S3030F 高压源表±3500V、±120mA输出能力

产品型号：S3030F      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：联讯 S3030F是结构紧凑、经济高效的单通道高电压、高功率电源/测量单元，能够同时输出和测量电压和电流， 能够提供最大±3500V、±120mA（直流）、10 GΩ、180W功率输出，能广泛地应用在功率半导体特性，GaN、SiC表征，复合材料，高压漏电流等测试和研究领域。S3030F支持传统的SMU SCPI命令，让测试代码的迁移变得轻...

TLP-3010C pulse generator 先进传输线脉冲 （TLP） 技术的 ESD 测量

产品型号：TLP-3010C      原产地：德国      所属类别：TLP 传输线脉冲

产品简介：High Power Pulse Instruments GmbH （HPPI） 是一家基于先进传输线脉冲 （TLP） 技术的 ESD 测量设备供应商。

高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA

产品型号：WAT-200KA      原产地：日本      所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统

产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。

PD-2000X 双脉冲(DPT)器件动态参数分析系统

产品型号：PD-2000X      原产地：中国      所属类别：动态参数测试系统

产品简介：PD2400-IF一款高适用性的双脉冲动态参数测试设备,与DS-8KSWA-J23 SiC 模块化动态测试单元构成模块化系统级动态测试方案，系统采用柔性模块接口，国际标准信号传输协议，保证数据互联互通，测试仪器与传感器间对高速信号的兼容性，一致性可溯源，参数补偿有依据，是行业内专业高效的动态参数测试解决方案之一。

PD-200X 多用途双脉冲(DPT)器件动态参数分析系统

产品型号：PD-200X      原产地：中国      所属类别：动态参数测试系统

产品简介：PD-200X 是由捷创仪器深度开发的多用途功率器件动态参数测试分析系统，系统采用最小回路结构保证系统Ls<20nH ，模块化设备，极佳的仪器与探头兼容性，高冗余安全性确保高压大电流测试器件与人员安全。目前最具性价比的双脉冲测试系统，特别适合大学，研究，初创型半导体企业。

Keithley 2400标准系列SMU 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2400 标准系列 SMU      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：Keithley 标准系列 2400 源测量单元 (SMU) 仪器提供四象限精密电压和电流源/负载，外加测量。每个 SMU 仪器均同时提供高度稳定的直流电源和一台真正的仪器级 6½ 位万用表。电源特性包括低噪声、高精度和回读。万用表的功能包括高重复性和低噪声。

Keithley 2601B-PULSE 10 µs 脉冲发生器/SMU 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2601B-PULSE      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：System SourceMeter®10 µs 脉冲发生器/源测量单元 (SMU) 仪器将高电流/高速脉冲发生器的功能与传统 SMU 的测量及全部功能集于一台仪器中。其优异的 10 A @ 10 V 快达10 μs 脉冲宽度和全 1 MS/s 数字化功能极大地提升了从台式检定到高度自动化脉冲式 I-V 生产测试等应用的效率。

IWATSU CS-605/603A 碳化硅器件 C-V高压5KV测试仪 日本岩崎

产品型号：CS-605/603      原产地：日本      所属类别：CV参数测试仪

产品简介：5kV（CS-605）あるいは3kV（CS-603）までの容量測定を自動化（スィープ機能付き），可以测Cies, Ciss（入力容量）、Coes, Coss（出力容量）、Cres , Crss（逆伝達容量）、 CT（端子間容量）、Cgs,Cge/Cgd,Ccg/Cds,Cce（計算値）、Rg（ゲート抵抗）