泰克-吉时利Keithley 2600-PCT 半导体参数波形记录仪

产品型号：2600-PCT-4B      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。

IWATSU 半导体参数自动化测量软件 CS-810

产品型号：CS-810      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：实现测量自动化并提高效率！半导体参数测量软件　CS-810以往很多项目都是分别通过手动操作一边执行设置一边花费大量的时间执行测量，而采用IWATSU半导体参数测量软件 CS-810的话，即可轻松且自动执行测量，而且测量内容也可作为依据保存。此外，如果事先设置阈值的话，还可实现自动测量。

PRECISE S系列S100/S200/S300数字源表 普赛斯

产品型号：S系列      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电 压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V ,最小电流分辨率10pA ,支持四象限工作，因此广泛应用于各种电气特性测试：半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材 料与纳米材料等特性测试和分析。

NGI N2600系列数字源表替代KEITHLEY 4200 直流与脉冲源 恩智

产品型号：N2600      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：N2600系列数字源表是NGI专门针对要求紧密结合源和测量的测试场景而研发的国产化源表。该系列产品集5台仪器（电压源、电流源、IVR测量）功能于一体，能输出超高精度的电压源和电流源并提供测量功能，测量分辨率达6位半；N2600系列产品内置多种功能软件，具备电源输出精度高、响应速度快、信号纯净、纹波噪声低等优点，可...

TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。

同惠电子TH1992B、TH1992、TH1991 高精度源表

产品型号：TH1992B、TH1992、TH1991      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：TH1991/TH1992系列精密源/测量电源，可同时输出并测量电压和电流，在仪器中集成了电流源、电压源、电压表、电流表功能，各功能可任意切换。还可输出高达±210V直流电压、±3A直流电流以及±10.5A脉冲电流、最小10fA/100nV的电源和测量分辨率，支持高速采样，可生成任意波形。

PRECISE HCP系列源表HCP100/HCP200/HCP300大电压台式脉冲源表 普赛斯

产品型号：HCP100/HCP200/HCP300      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：纳米材料的特性测试：石墨烯、纳米线有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器分立半导体器件的特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT 三极管、MOSFET、SIC等传感器的测试：电阻率、霍尔效应

KEYSIGHT B1505A 10KV-1500A 是德功率半导体参数分析仪 Qg

产品型号：B1505A      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：Agilent B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪是一款适合功率器件测试的综合解决方案，具有 sub-pA 至 10 kV/1500 A 的宽测量范围，并可提供精密的 µÙ 导通测量功能。此外，其 10 µs 快速脉冲功能能够执行完整的功率器件表征，并对新功率器件（例如 IGBT ）和宽带隙材料（例如，碳化硅（SiC）和氮化镓（G...