GWINSTEK固纬GSM-20H10数字源表

产品型号：GSM-20H10      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：GSM-20H10提供±210V / ±1.05A / 22W的四象限操作。在第一象限和第三象限，它们作为电源运行，为负载供电。在第二和第四象限，它们作为负载使用，在内部耗散功率。而电压值、电流值和电阻值可以在电源或负载操作期间进行量测，其准确度高达0.012%并且分辨率可达1µV/10pA/10µΩ。

IWATSU CS-3100 半导体参数分析仪 3000V@15A 曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-3100/3200/3300      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,zui大峰值电压：3000V，zui大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数。

IWATSU CS-3300 功率半导体参数分析3000V@1000A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-3300      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量，最大峰值电压3,000V（高电压模式），最大峰值电流1000A（CS-3300大电流模式），所有机型均搭载LEAKAGE模式(光标分辨率1pA)，可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口，搭载远程控制专用的LAN接口

Keithley 2510 /2510-AT/2520 SourceMeter光仪器 光学SMU 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2510 /2510-AT/2520      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：通过 Keithley 仪器，可以轻松构建 LIV（光功率-电流-电压）系统，从而经济高效地测试激光二极管模块。2520 脉冲激光二极管测试系统：同步测试系统，为脉冲和连续 LIV 测试提供纯源化和测量功能。TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT：确保通过控制其热电冷却器，为激光二极管模块提供严格的温度控制。

IWATSU 半导体参数分析仪 CS-3100/3200/3300 IGBT曲线图示 日本岩通计测

产品型号：CS-3000/3200/3300      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,最大峰值电压：3000V，最大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数,。

IWATSU CS-3200 功率半导体参数分析3000V@400A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-3200      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量，最大峰值电压3,000V（高电压模式），最大峰值电流400A（CS-3200大电流模式），所有机型均搭载LEAKAGE模式(光标分辨率1pA)，可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口，搭载远程控制专用的LAN接口

Keithley 2606B系列SMU源测量单元 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2606B      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本，2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。 此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。

IWATSU CS-5100，CS5200，CS5300，CS5400功率半导体I-V静态参数图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-5100/5200/5300/5400      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：用于测试IGBT,VDMOS等功率半导体的静态参数仪器，是目前市面上唯一一款能够全面替代TEKTRONIC 370系列图示仪的产品。