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TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号：4200-SCS 原产地：美国 所属类别：半导体参数分析仪
产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
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TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号：4200-SCS 原产地：美国 所属类别：半导体参数分析仪
产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号：CS-8500 原产地： 所属类别：半导体参数分析仪
产品简介：可与多种单元组合，支持任何工序的特性评估，适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA，备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能，大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台
产品型号：α-300 原产地：日本 所属类别：标准手动探针台
产品简介：12英寸及以下晶圆或芯片WAFER 测试
Cascade TESLA 200 美博 大功率8英寸半自动探针台
产品型号：TESLA 200 原产地：美国 所属类别：半自动探针台
产品简介：TESLA 系列专门为新型功率器件的开发与生产品质检查而开发，特别适合于高电压，大电流 的功率型器件和晶圆的测试方向 。
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