IWATSU SC-7205/7206/7207 多功能频率计数器岩崎频率计

产品型号：SC-7205/7206/7207      原产地：日本      所属类别：频率计

产品简介：SC-7200系列，SC-7205/7206/7207是一种高可靠度及使用非常方便的多功能通用计数器，能提供全面的测量功能，包含：频率、周期、时间间隔、脉冲宽度、相位、频率比、占空因素和事能积累等。具有良好的时基特性，稳定性达1PPM／年，适合研发，品管及生产使用。

Keithley 2510 /2510-AT/2520 SourceMeter光仪器 光学SMU 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2510 /2510-AT/2520      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：通过 Keithley 仪器，可以轻松构建 LIV（光功率-电流-电压）系统，从而经济高效地测试激光二极管模块。2520 脉冲激光二极管测试系统：同步测试系统，为脉冲和连续 LIV 测试提供纯源化和测量功能。TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT：确保通过控制其热电冷却器，为激光二极管模块提供严格的温度控制。

IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-8500      原产地：      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：可与多种单元组合，支持任何工序的特性评估，适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA，备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能，大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。

Keithley SMU2650系列2651A/26527A高功率 SourceMeter® 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2651A/26527A      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：2650 系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件（例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件）的检定和测试而设计。 它们提供前所未有的功率、精度、速度、灵活性、易用性，可提高研发、生产测试和可靠性环境...

联讯仪器 S0342C 四通道PXIe插卡式源表 精密电源/测量单元±30 V、±500 mA（直流/脉冲）

产品型号：S0342C      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：联讯仪器S0342C 结构紧凑、经济高效的四通道PXIe 电源/测量单元，能够同时输出和测量电压和电流，能够提供最大±30V、±500mA(直流/脉冲)，支持传统的 SMU SCPI 命令，让测试代码的迁移变得轻松快捷，支持现有大厂的 PXIe 机箱，可支持多卡同步，集成到生产测试系统中使用，以提高系统的测试效率并降低成本。

联讯仪器 S2019C 四通道PXIe插卡式源表 精密电源/测量单元±40 V、±500 mA（直流）、±1A（脉冲）

产品型号：S2019C      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：联讯仪器S2019C 结构紧凑、经济高效的四通道PXIe 电源/测量单元，能够同时输出和测量电压和电流，能够提供最大±40V、±500mA(直流）、±1A（脉冲)，支持传统的 SCPI 命令，让测试代码的迁移变得轻松快捷，支持现有大厂的 PXIe 机箱，可支持多卡同步，集成到生产测试系统中使用，以提高系统的测试效率并降低成本。

联讯仪器 S2016C 单通道PXIe插卡式源表 精密电源/测量单元±200 V、±1 A（直流）、 ±3 A（脉冲）

产品型号：S2016C      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：联讯仪器S2016C  结构紧凑、经济高效的单通道PXIe电源/测量单元，能够同时输出和测量电压和电流，能够提供最大±200V、±1 A（直流）、±3A（脉冲）、20W恒功率输出，支持传统的SMU SCPI命令，让测试代码的迁移变得轻松快捷，支持现有大厂的PXIe机箱，可支持多卡同步，集成到生产测试系统中使用，以提高系统的测试效率并降低成本。

联讯仪器 S2014C 12通道PXIe插卡式源表 精密电源/测量单元±10 V、±50 mA（直流/脉冲）

产品型号：S2014C      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：联讯仪器S2014C 结构紧凑、经济高效的12通道 PXIe 电源/测量单元，能够同时输出和测量电压和电流，最大±10V、±50 mA（直流/脉冲）输出，支持传统 SCPI 命令，让测试代码迁移变得轻松快捷，支持现有大厂PXIe 机箱，可支持多卡同步，集成到生产测试系统中使用，以提高系统的测试效率并降低成本。