IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-8500      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：可与多种单元组合，支持任何工序的特性评估，适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA，备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能，大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。

IWATSU SC-7205/7206/7207 多功能频率计数器岩崎频率计

产品型号：SC-7205/7206/7207      原产地：日本      所属类别：频率计

产品简介：SC-7200系列，SC-7205/7206/7207是一种高可靠度及使用非常方便的多功能通用计数器，能提供全面的测量功能，包含：频率、周期、时间间隔、脉冲宽度、相位、频率比、占空因素和事能积累等。具有良好的时基特性，稳定性达1PPM／年，适合研发，品管及生产使用。

IWATSU CS-8200 GaN/SiC半导体参数分析曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-8000      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：采用模块式设计，电压高达2KV可调，电流达2000A 可选，最小电流分辨率优于250fA.

KEYSIGHT B1505A 10KV-1500A 是德功率半导体参数分析仪 Qg

产品型号：B1505A      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：Agilent B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪是一款适合功率器件测试的综合解决方案，具有 sub-pA 至 10 kV/1500 A 的宽测量范围，并可提供精密的 µÙ 导通测量功能。此外，其 10 µs 快速脉冲功能能够执行完整的功率器件表征，并对新功率器件（例如 IGBT ）和宽带隙材料（例如，碳化硅（SiC）和氮化镓（G...

高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA

产品型号：WAT-200KA      原产地：日本      所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统

产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。

Keithley 2510 /2510-AT/2520 SourceMeter光仪器 光学SMU 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2510 /2510-AT/2520      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：通过 Keithley 仪器，可以轻松构建 LIV（光功率-电流-电压）系统，从而经济高效地测试激光二极管模块。2520 脉冲激光二极管测试系统：同步测试系统，为脉冲和连续 LIV 测试提供纯源化和测量功能。TEC SourceMeter SMU、2510 和 2510-AT：确保通过控制其热电冷却器，为激光二极管模块提供严格的温度控制。

Keithley SMU2650系列2651A/26527A高功率 SourceMeter® 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2651A/26527A      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：2650 系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件（例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件）的检定和测试而设计。 它们提供前所未有的功率、精度、速度、灵活性、易用性，可提高研发、生产测试和可靠性环境...

Cascade SUMMIT11000 200mm手动探针台FormFactor 8英寸

产品型号：SUMMIT11000      原产地：美国      所属类别：标准手动探针台

产品简介：FormFactor Cascade 200mm手动探针台SUMMIT11000