TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。

KEYSIGHT B1505A 10KV-1500A 是德功率半导体参数分析仪 Qg

产品型号：B1505A      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：Agilent B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪是一款适合功率器件测试的综合解决方案，具有 sub-pA 至 10 kV/1500 A 的宽测量范围，并可提供精密的 µÙ 导通测量功能。此外，其 10 µs 快速脉冲功能能够执行完整的功率器件表征，并对新功率器件（例如 IGBT ）和宽带隙材料（例如，碳化硅（SiC）和氮化镓（G...

IWATSU CS-3100 半导体参数分析仪 3000V@15A 曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-3100/3200/3300      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,zui大峰值电压：3000V，zui大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数。

IWATSU CS-3200 功率半导体参数分析3000V@400A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-3200      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量，最大峰值电压3,000V（高电压模式），最大峰值电流400A（CS-3200大电流模式），所有机型均搭载LEAKAGE模式(光标分辨率1pA)，可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口，搭载远程控制专用的LAN接口

Apollowave α-100 阿波罗微波4英寸手动探针台

产品型号：α-100      原产地：日本      所属类别：标准手动探针台

产品简介：Offer the new standard model of alfa series with high operational advanced performance

IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-8500      原产地：      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：可与多种单元组合，支持任何工序的特性评估，适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA，备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能，大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。

Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台

产品型号：α-300       原产地：日本      所属类别：标准手动探针台

产品简介：12英寸及以下晶圆或芯片WAFER 测试

PD-200X 多用途双脉冲(DPT)器件动态参数分析系统

产品型号：PD-200X      原产地：中国      所属类别：动态参数测试系统

产品简介：PD-200X 是由捷创仪器深度开发的多用途功率器件动态参数测试分析系统，系统采用最小回路结构保证系统Ls<20nH ，模块化设备，极佳的仪器与探头兼容性，高冗余安全性确保高压大电流测试器件与人员安全。目前最具性价比的双脉冲测试系统，特别适合大学，研究，初创型半导体企业。