快速联系>

咨询热线

0731-85260926 18665876229

更多信息请关注企业微信
晶体管图示仪 半导体参数分析仪 SMU源表 动态参数测试系统 CV参数测试仪 门极电荷Qg测试仪 WAT晶圆可接受度测试系统 TLP 传输线脉冲 EMMI 微光红外故障定位 TDDB 介电层击穿 飞安表/静电计/高阻计
标准手动探针台 便携桌面式探针台 半自动探针台 射频微波探针台 高低温探针台 真空探针台系统 强磁-霍尔探针台 定制型精密探针卡 磁吸探针座 CCD 显微镜 测试线缆与适配夹具 屏蔽箱与减震台 其他配件
B-H分析仪 磁损功耗测试仪 阻抗分析仪 直流偏置DC Bias 高频LCR表 矢量网络分析仪 VNA 频率特性分析仪 毫欧表/电池内阻测试仪 磁通计
12bit高清数字示波器 光隔离示波器系统 基础数字示波器 信号发生器 数字万用表DMM 频谱分析仪 频率计 红外热像仪
多通道数据采集仪 数据采集与回放 功率分析仪 功率计 变压器电参数分析仪 电力参数分析仪
光隔离电压探头 光隔离电流探头 示波器电压探头 高低压差分探头 磁通门电流互感器 交直流电流探头 无感-同轴分流器 通讯接口与线缆 专用夹具 软件
可编程交流电源 交流双向电源(电网模拟器) 可编程直流电源 直流双向馈网电源 交流电子负载 直流电子负载 精密双极性功率放大器 双极性仿真电源
数字锁相环放大器 超低噪声前置放大器 精密电流放大器 精密差分放大器 精密滤波器 截光器 精密低噪声直流电源 振荡器
安规测试仪(ACI/DCI/IR/GB) 高压表 漏电电流表
电磁骚扰EMI 电磁抗扰度EMS
标准或校准源表 标准电流与电压表
热测试温度控制系统热流仪 高低温循环冲击箱 恒温恒湿试验箱 震动试验台 盐雾实验 电池类特规试验装置

产品信息

Product information

产品信息
Keithley  2606B系列SMU源测量单元 美国泰克TEKTRONIX

Keithley 2606B系列SMU源测量单元 美国泰克TEKTRONIX

产品型号:2606B      原产地:美国

所属类别:SMU源表

产品简介:

2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本,2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。 此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。

产品特点
产品参数
应用说明
功能配置
资源下载

image.png

image.png

将密度提高 3

当生产测试机架空间增加且您需要尽量减少增加新测试机架的需求时,与传统 2U 外形的 SMU 相比,2606B 可以在同一机架区域中增加更多通道容量。

·方便堆叠和安放

·无需增加 1U 隔热间距

·相同机架空间内的通道数提高 3

·通道数相同但占用空间减少 3

image.png 

兼具两台 2602B 的功能

在 1 U 外形中体验相当于业内领先的 Keithley 2602B 系统 SourceMeter 的绝佳测量完整性、同步、速度和精度。2606B 也与 2602B 使用同样的模拟、数字 I/O TSP Link 连接器,实现无缝迁移。

·0.015% 基本测量精度

·6 1/2 位分辨率

·100nA 低电流范围与 2pA 灵敏度

·8 Phoenix 模拟和 25 针数字 I/O 连接器

 image.png 

系统性能提供无与伦比的生产吞吐量

测试脚本处理器 (TSP®) 技术可在 SMU 仪器内嵌入和执行完整测试程序,提供优异性能。TSP-Link® 技术支持扩展多达 64 条通道,支持高速、SMU-per-pin 并行测试(而不使用主机)。<500 ns 时所有通道同时独立受控。

·消除与 PC 之间耗时的总线通信

·兼容仪器 2602B SourceMeter TSP 脚本代码

·连接多达 32 TSP-Link 节点或 64 条独立 SMU 通道

·随着测试要求变化轻松重新配置

型号

通道

最大电流源/量程

最大电压源/量程

测量分辨率(电流/电压)

电源

2606B

4

3A

20V

100fA / 100nV

20 W