联讯 S3030F 高压源表±3500V、±120mA输出能力
产品型号:S3030F 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:联讯 S3030F是结构紧凑、经济高效的单通道高电压、高功率电源/测量单元,能够同时输出和测量电压和电流, 能够提供最大±3500V、±120mA(直流)、10 GΩ、180W功率输出,能广泛地应用在功率半导体特性,GaN、SiC表征,复合材料,高压漏电流等测试和研究领域。S3030F支持传统的SMU SCPI命令,让测试代码的迁移变得轻...
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联讯 S3030F 高压源表±3500V、±120mA输出能力
产品型号:S3030F 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:联讯 S3030F是结构紧凑、经济高效的单通道高电压、高功率电源/测量单元,能够同时输出和测量电压和电流, 能够提供最大±3500V、±120mA(直流)、10 GΩ、180W功率输出,能广泛地应用在功率半导体特性,GaN、SiC表征,复合材料,高压漏电流等测试和研究领域。S3030F支持传统的SMU SCPI命令,让测试代码的迁移变得轻...
高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号:WAT-200KA 原产地:日本 所属类别:WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介:本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的,对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试,系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试,IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
IWATSU CS-605/603A 碳化硅器件 C-V高压5KV测试仪 日本岩崎
产品型号:CS-605/603 原产地:日本 所属类别:CV参数测试仪
产品简介:5kV(CS-605)あるいは3kV(CS-603)までの容量測定を自動化(スィープ機能付き),可以测Cies, Ciss(入力容量)、Coes, Coss(出力容量)、Cres , Crss(逆伝達容量)、 CT(端子間容量)、Cgs,Cge/Cgd,Ccg/Cds,Cce(計算値)、Rg(ゲート抵抗)