TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。

IWATSU CS-3100 半导体参数分析仪 3000V@15A 曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-3100/3200/3300      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,zui大峰值电压：3000V，zui大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数。

IWATSU CS-3300 功率半导体参数分析3000V@1000A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-3300      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量，最大峰值电压3,000V（高电压模式），最大峰值电流1000A（CS-3300大电流模式），所有机型均搭载LEAKAGE模式(光标分辨率1pA)，可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口，搭载远程控制专用的LAN接口

IWATSU CS-3200 功率半导体参数分析3000V@400A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-3200      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量，最大峰值电压3,000V（高电压模式），最大峰值电流400A（CS-3200大电流模式），所有机型均搭载LEAKAGE模式(光标分辨率1pA)，可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口，搭载远程控制专用的LAN接口

Keithley 2606B系列SMU源测量单元 美国泰克TEKTRONIX

产品型号：2606B      原产地：美国      所属类别：SMU源表

产品简介：2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本，2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。 此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。

IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-8500      原产地：      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：可与多种单元组合，支持任何工序的特性评估，适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA，备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能，大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。

高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA

产品型号：WAT-200KA      原产地：日本      所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统

产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。