TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
HSP-100 型源表适配高精度屏蔽信号测试盒
产品型号:HSP-100 原产地:中国 所属类别:高低温电性能仿真H3TRx
产品简介:特别为源表应用开发的多通道测试盒, 支持所有品牌SMU ,同时可以适配Keithley 4200-SCS ,Keysight B1500A 等型号半导体参数分析仪。
高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号:WAT-200KA 原产地:日本 所属类别:WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介:本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的,对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试,系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试,IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
PRECISE E系列源表E100/E200/E300高电压源测单元 普赛斯
产品型号:E100/E200/E300 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:高电压源测单元具有输出及测量电压高(3000V)、能输出及测量微弱电流信号(lnA)的特 点。设备工作在第一象限,输出及测量电压0~3000V ,输出及测量电流0~100mA°支持恒压 恒流工作模式,同时支持丰富的I-V扫描模式。设备可应用于IGBT击穿电压测试、IGBT动态测试母线电容充电电源、IGBT老化电源、防 雷二极管耐压测试、...
IWATSU岩崎 CS-12800 15KV大功率宽禁带半导体参数曲线图示测试仪
产品型号:CS-10400/10800/12800/15800 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:高电压・大电流,在CS-3100基础上加载UHV与HC
泰克-吉时利Keithley 半导体参数自动化检定套件 (ACS) 软件
产品型号:ACS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:Keithley 自动化检定套件 (ACS) 软件吉时利自动化检定套件 (ACS) 是灵活的交互式软件测试环境,可用于器件检定、参数化测试、可靠性测试,甚至简单的功能测试。ACS 支持各种吉时利仪器和系统、硬件配置和测试设置,从用于 QA 实验室的一些台式仪器到完全集成且基于机架的自动化测试系统。利用 ACS,用户可使用...
PRECISE CS系列源表CS100/CS200/CS300/CS400/CBI401及CBI402子卡 普赛斯
产品型号:CS100、CS200、CS300、CS400、CBI401及CBI402子卡 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:普赛斯插卡式设备具有通道密度高、同步触发功能强、多设备组合效率高等特点。普赛斯插卡式主机采用自定义框架,背板总线带宽高达3Gbps,支持16路触发总线,满足多卡设备高速率通信需求。普赛斯研发了丰富的可供用户选配的子卡,方便用户根据功能性能需求灵活配置不同的子卡。主机对外通信支持串口、以太网及GPIB。
PRECISE S系列S100/S200/S300数字源表 普赛斯
产品型号:S系列 原产地:中国 所属类别:SMU源表
产品简介:S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表,集电 压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V ,最小电流分辨率10pA ,支持四象限工作,因此广泛应用于各种电气特性测试:半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材 料与纳米材料等特性测试和分析。