TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。

HSP-100 型源表适配高精度屏蔽信号测试盒

产品型号：HSP-100      原产地：中国      所属类别：高低温电性能仿真H3TRx

产品简介：特别为源表应用开发的多通道测试盒， 支持所有品牌SMU ，同时可以适配Keithley 4200-SCS ,Keysight B1500A 等型号半导体参数分析仪。

Easycon 200X 半导体参数分析软件系统

产品型号：Easycon 200X       原产地：中国      所属类别：可定制系统集成软件

产品简介：由JECTRONIC 自主开发的，针对IWATSU 半导体参数分析仪，KEITHLEY 源表，联讯源表等半导体参数综合应用，可扩展高低温温度，温控；光学等外设，高度集成的一款平台软

TLP-3010C pulse generator 先进传输线脉冲 （TLP） 技术的 ESD 测量

产品型号：TLP-3010C      原产地：德国      所属类别：TLP 传输线脉冲

产品简介：High Power Pulse Instruments GmbH （HPPI） 是一家基于先进传输线脉冲 （TLP） 技术的 ESD 测量设备供应商。

高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA

产品型号：WAT-200KA      原产地：日本      所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统

产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。

PRECISE E系列源表E100/E200/E300高电压源测单元 普赛斯

产品型号：E100/E200/E300      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：高电压源测单元具有输出及测量电压高(3000V)、能输出及测量微弱电流信号(lnA)的特 点。设备工作在第一象限，输出及测量电压0~3000V ,输出及测量电流0~100mA°支持恒压 恒流工作模式，同时支持丰富的I-V扫描模式。设备可应用于IGBT击穿电压测试、IGBT动态测试母线电容充电电源、IGBT老化电源、防 雷二极管耐压测试、...

IWATSU岩崎 CS-12800 15KV大功率宽禁带半导体参数曲线图示测试仪

产品型号：CS-10400/10800/12800/15800      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：高电压・大电流，在CS-3100基础上加载UHV与HC

TLP-4010C Pulse Generator脉冲发生器 先进传输线脉冲 ESD 测量设备

产品型号：TLP-4010C      原产地：德国      所属类别：TLP 传输线脉冲

产品简介：High Power Pulse Instruments GmbH （HPPI） 是一家基于先进传输线脉冲 （TLP） 技术的 ESD 测量设备供应商。