IWATSU CS-3300 功率半导体参数分析3000V@1000A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3300 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量,最大峰值电压3,000V(高电压模式),最大峰值电流1000A(CS-3300大电流模式),所有机型均搭载LEAKAGE模式(测量分辨率1pA),可执行图像数据保存和设置数据保存至USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口
IWATSU CS-3300 功率半导体参数分析3000V@1000A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3300 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量,最大峰值电压3,000V(高电压模式),最大峰值电流1000A(CS-3300大电流模式),所有机型均搭载LEAKAGE模式(测量分辨率1pA),可执行图像数据保存和设置数据保存至USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口
IWATSU CS-3100 半导体参数分析仪 3000V@15A 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3100/3200/3300 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:IWATSU岩崎(岩通计测) CS-3000大功率晶体管特性图示仪,分为CS-3100/3200/3300,zui大峰值电压:3000V,zui大峰值电流:1000 A,支持漏电流(LEAKAGE)测试模式(光标分辨率:1 pA),测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数。
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
固纬GW AEL-5000系列单相或三相交流感性仿真负载容性负载
产品型号:AEL-5000 原产地:台湾 所属类别:交流电子负载
产品简介:AEL-5000系列交/直流电子负载内建16位A/D及DSP等精准的量测电路,提供了精确的测量值,测量项目共有电压均方根值(rms)、 电流均方根值(Arms)、 瓦特值(Watt)、 伏安(VA)、 波峰因素(CF)、 功率因素(PF)、 谐波失真率(THD)、电压总谐波失真率(VTHD)、 电流总谐波失真率(ITHD)、 峰值电流(lpeak)、 电流最大值(Am...