高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号:WAT-200KA 原产地:日本 所属类别:WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介:本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的,对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试,系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试,IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
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高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号:WAT-200KA 原产地:日本 所属类别:WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介:本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的,对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试,系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试,IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
VITREK 98x Teraohmmeter 太欧表/绝缘电阻 (IR) 测试仪
产品型号:98X 原产地:美国 USA 所属类别:安规测试仪(ACI/DCI/IR/GB)
产品简介:98x 系列太欧表满足当今对更高电压 IR(绝缘电阻)测试的苛刻要求。在永无止境的更高效率竞赛中,电动汽车和太阳能电池板阵列现在以高达 2.5 KV 的电压轨运行。这里不适合 1 KV 测试仪,是时候升级到 Vitrek 98x 了,对于需要对多根导体进行绝缘电阻测试的应用,Vitrek 98×1 红外测试仪能够直接控制多达 4...
VITREK 95X Series Hipot Testers AC-DC-IR-GB 耐压仪
产品型号: 原产地: 所属类别:安规测试仪(ACI/DCI/IR/GB)
产品简介:功率和多功能性,适用于最苛刻的电气安全测试应用Vitrek 采用 DSP 技术从头开始构建 95X 系列,为您带来最安全、最快速、功能最强大、功能丰富的耐压测试仪。95X系列结合了高输出功率、宽范围的交流和直流电压输出以及极低的漏电流测量。然后,我们添加了一个动态范围高达 100K 欧姆的 4 线毫欧表和一个重叠的太...
赛恩科仪SSI OE4300多通道高压功率放大器
产品型号:OE4300 原产地:中国 所属类别:精密双极性功率放大器
产品简介:最大电流:200mA最大输出电压:400Vp-p带宽:DC~500kHz输入阻抗:1MΩ通道数:1~4个通道可选电压偏置:-97.5V~+97.5V电压增益:0~1600(共8个档位)USB接口、labview程控、触摸屏控制
赛恩科仪SSI 多通道锁相放大器
产品型号: 原产地:中国 所属类别:数字锁相环放大器
产品简介:DC至100kHz或500kHz可选通道数3至10通道可选1nV~5V电压测量范围噪声低至5nV/√Hz动态储备高至130dB每个通道8个任意频率解调器附带频谱分析、示波器功能
赛恩科仪SSI OE2041锁相放大器60MHz
产品型号:OE2041 原产地:中国 所属类别:数字锁相环放大器
产品简介:DC至60MHz测量范围时间常数30ns至4ks噪声低至5nV/√Hz多谐波同时测量动态储备高至120dB示波器、频谱分析仪PID自动控制AM解调模式
赛恩科仪SSI 模块锁相放大器OE1311/OE1351
产品型号:OE1311/OE1351 原产地:中国 所属类别:数字锁相环放大器
产品简介:DC至100kHz/500kHz测量范围时间常数1us至3ks噪声低至5nV/√Hz8个任意频率解调器动态储备高至130dB1nV~5V电压测量范围支持PXIE协议及机箱尺寸小体积,易集成
赛恩科仪SSI 小体积120kHz锁相放大器OE1201
产品型号:OE1201 原产地:中国 所属类别:数字锁相环放大器
产品简介:50mHz~120kHz测量带宽1nV~1V电压测量范围小体积,易集成性能媲美SR830最佳性价比