泰克-吉时利Keithley 2600-PCT 半导体参数波形记录仪

产品型号：2600-PCT-4B      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。

PRECISE S系列S100/S200/S300数字源表 普赛斯

产品型号：S系列      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电 压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V ,最小电流分辨率10pA ,支持四象限工作，因此广泛应用于各种电气特性测试：半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材 料与纳米材料等特性测试和分析。

NGI N2600系列数字源表替代KEITHLEY 4200 直流与脉冲源 恩智

产品型号：N2600      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：N2600系列数字源表是NGI专门针对要求紧密结合源和测量的测试场景而研发的国产化源表。该系列产品集5台仪器（电压源、电流源、IVR测量）功能于一体，能输出超高精度的电压源和电流源并提供测量功能，测量分辨率达6位半；N2600系列产品内置多种功能软件，具备电源输出精度高、响应速度快、信号纯净、纹波噪声低等优点，可...

TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS      原产地：美国      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。

IWATSU 半导体参数分析仪 CS-3100/3200/3300 IGBT曲线图示 日本岩通计测

产品型号：CS-3000/3200/3300      原产地：日本       所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,最大峰值电压：3000V，最大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数,。

IWATSU CS-5100，CS5200，CS5300，CS5400功率半导体I-V静态参数图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-5100/5200/5300/5400      原产地：日本      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：用于测试IGBT,VDMOS等功率半导体的静态参数仪器，是目前市面上唯一一款能够全面替代TEKTRONIC 370系列图示仪的产品。

IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪 日本岩崎

产品型号：CS-8500      原产地：      所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：可与多种单元组合，支持任何工序的特性评估，适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA，备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能，大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。

Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台

产品型号：α-300       原产地：日本      所属类别：标准手动探针台

产品简介：12英寸及以下晶圆或芯片WAFER 测试