Apollowave AP-200 阿波罗微波高功率探针台

产品型号：AP-200      原产地：日本      所属类别：半自动探针台

产品简介：Corresponding to 15KV-30KV, 200A　 Keep the low current even for High voltage. Keep the low current with 350 deg.C High Temperature Chuck Top for Low contact resistance

Apollowave a-300CS阿波罗 -60/350度高低温 RF 手动探针台系统

产品型号：a-300CS      原产地：日本      所属类别：射频微波探针台

产品简介：可以对应最大12英寸晶圆，温度-60至+350度的高频率小漏电级测试,同时支持定制RF探针卡

Apollowave MJ-8D 阿波罗8K低温真空物理材料探针台

产品型号：MJ-8D      原产地：日本      所属类别：高低温探针台

产品简介：真空度：1.333×10－3 Pa

ARS闭循环低温物理材料真空探针台，低温至10K，极限为1.2K

产品型号：      原产地：美国      所属类别：高低温探针台

产品简介：ADVANCED RESEARCH SYSTEMS（ARS）公司的PS-CC闭循环探针台用于样品的非破坏性检测，测试灵活，广泛应用于直流（DC），射频（RF）,MEMS, 纳米电子，超导性，纳米电路的光电特性，量子点和量子线，非破坏性测试等。

ARS闭循环低温物理材料真空探针台，低温至10K，极限为1.2K

产品型号：      原产地：美国      所属类别：强磁-霍尔探针台

产品简介：ADVANCED RESEARCH SYSTEMS（ARS）公司的PS-CC闭循环探针台用于样品的非破坏性检测，测试灵活，广泛应用于直流（DC），射频（RF）,MEMS, 纳米电子，超导性，纳米电路的光电特性，量子点和量子线，非破坏性测试等。

Apollowave PROBE CARD 阿波罗 高低温大电流及微波探针卡

产品型号：PROBE CARD      原产地：日本      所属类别：定制型精密探针卡

产品简介：可以根据用户要求对应4-12 inch晶圆的RF射频/HP高电压（10KV）,HC大电流（400A 脉冲），耐温-60度至350度的多参数订制型探针卡，可以匹配KEYSIGHT ，KEITHLEY，CASCADE 等主流探针台及测试仪。

Intest Thermal Temptronic BT28 热测试温度控制系统

产品型号：Temptronic BT28      原产地：美国      所属类别：快速温变热流仪

产品简介：RapidTemp™BT28热电流®，一个紧凑而又非常强大的温度测试系统，旨在重新定义您的台式热测试经验。无与伦比的性能塞进了紧凑小巧的机身-28° to +225°C极速温变

Intest Thermal Temptronic ATS-710E-M热测试温度控制系统

产品型号：Temptronic ​ATS-710E-M      原产地：美国      所属类别：快速温变热流仪

产品简介：ATS-710E-M热测试温度控制系统热流仪：采用先进的温度源，组件，零件，混合动力，模块，快速和精确的热调节，在不使用液氮（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）下实现超低温环境，能在-80° to +225°C，精准极速升降温