TLP-3010C pulse generator 先进传输线脉冲 （TLP） 技术的 ESD 测量

产品型号：TLP-3010C      原产地：德国      所属类别：TLP 传输线脉冲

产品简介：High Power Pulse Instruments GmbH （HPPI） 是一家基于先进传输线脉冲 （TLP） 技术的 ESD 测量设备供应商。

高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA

产品型号：WAT-200KA      原产地：日本      所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统

产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。

PD-2000X 双脉冲(DPT)器件动态参数分析系统

产品型号：PD-2000X      原产地：中国      所属类别：动态参数测试系统

产品简介：PD2400-IF一款高适用性的双脉冲动态参数测试设备,与DS-8KSWA-J23 SiC 模块化动态测试单元构成模块化系统级动态测试方案，系统采用柔性模块接口，国际标准信号传输协议，保证数据互联互通，测试仪器与传感器间对高速信号的兼容性，一致性可溯源，参数补偿有依据，是行业内专业高效的动态参数测试解决方案之一。

PD-200X 多用途双脉冲(DPT)器件动态参数分析系统

产品型号：PD-200X      原产地：中国      所属类别：动态参数测试系统

产品简介：PD-200X 是由捷创仪器深度开发的多用途功率器件动态参数测试分析系统，系统采用最小回路结构保证系统Ls<20nH ，模块化设备，极佳的仪器与探头兼容性，高冗余安全性确保高压大电流测试器件与人员安全。目前最具性价比的双脉冲测试系统，特别适合大学，研究，初创型半导体企业。

Springburo CLIPPER probe CLP1500V15A1

产品型号：      原产地：      所属类别：高低压差分探头

产品简介：Springburo has developed numerous patented technologies for use in the field of Transistor testing and evaluation, such as the "Voltage Clipper" which measures directly at high resolution the real Transistor conduction voltage. This permits the monitoring of power transistor ON-resistances under operating voltages of up to 1500V, as well as the thermal performance during real operating conditions.

Intest Thermal Temptronic BT28 热测试温度控制系统

产品型号：Temptronic BT28      原产地：美国      所属类别：热测试温度控制系统热流仪

产品简介：RapidTemp™BT28热电流®，一个紧凑而又非常强大的温度测试系统，旨在重新定义您的台式热测试经验。无与伦比的性能塞进了紧凑小巧的机身-28° to +225°C极速温变

Intest Thermal Temptronic ATS-545-M热测试温度控制系统

产品型号：Temptronic ATS-545-M      原产地：美国      所属类别：热测试温度控制系统热流仪

产品简介：ATS-545-M热测试温度控制系统热流仪：采用先进的温度源，组件，零件，混合动力，模块，快速和精确的热调节，在不使用液氮（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）下实现超低温环境，能在-80° to +225°C，精准极速升降温

Intest Thermal Temptronic ATS-710E-M热测试温度控制系统

产品型号：Temptronic ​ATS-710E-M      原产地：美国      所属类别：热测试温度控制系统热流仪

产品简介：ATS-710E-M热测试温度控制系统热流仪：采用先进的温度源，组件，零件，混合动力，模块，快速和精确的热调节，在不使用液氮（LN2）或液态二氧化碳（LCO2）下实现超低温环境，能在-80° to +225°C，精准极速升降温