PRECISE HPV系列源表HPV100/HPV200/HPV300大电压台式脉冲源表 普赛斯

产品型号：HPV100/HPV200/HPV300      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：纳米材料的特性测试：石墨烯、纳米线有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器分立半导体器件的特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等传感器的测试：电阻率、霍尔效应

PRECISE P系列SMU P100/SMU P200/SMU P300脉冲源表 普赛斯

产品型号：SMU P100、SMU P200、SMU P300      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：P系列脉冲源表是在直流源表上的基础上新打造的一款高精度、大动态、数字触摸源表，汇集 电压、电流输入输出及测量等多种功能，最大输出电压达300V ,最大脉冲输出电流达10A ,支持 四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。P系列源表适用于各行各业使用者，特 别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导...

PRECISE E系列源表E100/E200/E300高电压源测单元 普赛斯

产品型号：E100/E200/E300      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：高电压源测单元具有输出及测量电压高(3000V)、能输出及测量微弱电流信号(lnA)的特 点。设备工作在第一象限，输出及测量电压0~3000V ,输出及测量电流0~100mA°支持恒压 恒流工作模式，同时支持丰富的I-V扫描模式。设备可应用于IGBT击穿电压测试、IGBT动态测试母线电容充电电源、IGBT老化电源、防 雷二极管耐压测试、...

PRECISE CS系列源表CS100/CS200/CS300/CS400/CBI401及CBI402子卡 普赛斯

产品型号：CS100、CS200、CS300、CS400、CBI401及CBI402子卡      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：普赛斯插卡式设备具有通道密度高、同步触发功能强、多设备组合效率高等特点。普赛斯插卡式主机采用自定义框架，背板总线带宽高达3Gbps，支持16路触发总线，满足多卡设备高速率通信需求。普赛斯研发了丰富的可供用户选配的子卡，方便用户根据功能性能需求灵活配置不同的子卡。主机对外通信支持串口、以太网及GPIB。

PRECISE S系列S100/S200/S300数字源表 普赛斯

产品型号：S系列      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率先国产化的源表，集电 压、电流的输入输出及测量等多种功能。最大输出电压300V ,最小电流分辨率10pA ,支持四象限工作，因此广泛应用于各种电气特性测试：半导体IC或元器件、功率器件、传感器、有机材 料与纳米材料等特性测试和分析。

NGI N2600系列数字源表替代KEITHLEY 4200 直流与脉冲源 恩智

产品型号：N2600      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：N2600系列数字源表是NGI专门针对要求紧密结合源和测量的测试场景而研发的国产化源表。该系列产品集5台仪器（电压源、电流源、IVR测量）功能于一体，能输出超高精度的电压源和电流源并提供测量功能，测量分辨率达6位半；N2600系列产品内置多种功能软件，具备电源输出精度高、响应速度快、信号纯净、纹波噪声低等优点，可...

同惠电子TH1992B、TH1992、TH1991 高精度源表

产品型号：TH1992B、TH1992、TH1991      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：TH1991/TH1992系列精密源/测量电源，可同时输出并测量电压和电流，在仪器中集成了电流源、电压源、电压表、电流表功能，各功能可任意切换。还可输出高达±210V直流电压、±3A直流电流以及±10.5A脉冲电流、最小10fA/100nV的电源和测量分辨率，支持高速采样，可生成任意波形。

PRECISE HCP系列源表HCP100/HCP200/HCP300大电压台式脉冲源表 普赛斯

产品型号：HCP100/HCP200/HCP300      原产地：中国      所属类别：SMU源表

产品简介：纳米材料的特性测试：石墨烯、纳米线有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器分立半导体器件的特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT 三极管、MOSFET、SIC等传感器的测试：电阻率、霍尔效应