3通道_电流属性_半导体参数分析仪_半导体器件参数分析_产品信息

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带宽：全部 DC <100Mhz <500MHz <1GHZ <6GHZ <20GHZ >20GHZ

通道：全部单通道双通道 3通道 4通道 6通道 8通道 8通道以上

精度：全部 ppm级 0.1级 0.2级 0.5级 1.0级 2.0级

属性：全部电流电压频谱频率相位阻抗红外温度磁学声学光学

TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS 原产地：美国所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
KEYSIGHT B1505A 10KV-1500A 是德功率半导体参数分析仪 Qg

产品型号：B1505A 原产地：美国所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：Agilent B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪是一款适合功率器件测试的综合解决方案，具有 sub-pA 至 10 kV/1500 A 的宽测量范围，并可提供精密的 µÙ 导通测量功能。此外，其 10 µs 快速脉冲功能能够执行完整的功率器件表征，并对新功率器件（例如 IGBT ）和宽带隙材料（例如，碳化硅（SiC）和氮化镓（G...
IWATSU CS-3100 半导体参数分析仪 3000V@15A 曲线图示仪日本岩崎

产品型号：CS-3100/3200/3300 原产地：日本所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,zui大峰值电压：3000V，zui大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数。
IWATSU CS-3200 功率半导体参数分析3000V@400A JEDEC曲线图示仪日本岩崎

产品型号：CS-3200 原产地：日本所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量，最大峰值电压3,000V（高电压模式），最大峰值电流400A（CS-3200大电流模式），所有机型均搭载LEAKAGE模式(光标分辨率1pA)，可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口，搭载远程控制专用的LAN接口
IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪日本岩崎

产品型号：CS-8500 原产地：所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：可与多种单元组合，支持任何工序的特性评估，适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA，备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能，大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。

日本岩通计测IWATSU - 德国PMK - 牛顿N4L- GWINSTEK- 日本APOLLOWAVE - 德国 DR HUBERT 中国总代理