快速筛选适合您使用的产品
泰克-吉时利Keithley 2600-PCT 半导体参数波形记录仪
产品型号：2600-PCT-4B 原产地：美国 所属类别：半导体参数分析仪
产品简介：开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号：4200-SCS 原产地：美国 所属类别：半导体参数分析仪
产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号：WAT-200KA 原产地：日本 所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
电话/TEL: 0731-85260926
传真/FAX : 0731-85263946
邮件/E-mail ：sales@jectronic.com
地址: 长沙市雨花区环保中路289号长沙屿中心 A3栋1015室
版权所有㊣ 长沙力高捷创仪器有限公司
Copyright Jectronic instruments ltd, All Rights Reserved
更多信息请关注企业微信
技术咨询
留言反馈