DC宽带_4通道_电压属性_半导体器件参数分析_产品信息

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带宽：全部 DC <100Mhz <500MHz <1GHZ <6GHZ <20GHZ >20GHZ

通道：全部单通道双通道 3通道 4通道 6通道 8通道 8通道以上

精度：全部 ppm级 0.1级 0.2级 0.5级 1.0级 2.0级

属性：全部电流电压频谱频率相位阻抗红外温度磁学声学光学

TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪

产品型号：4200-SCS 原产地：美国所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
IWATSU CS-3100 半导体参数分析仪 3000V@15A 曲线图示仪日本岩崎

产品型号：CS-3100/3200/3300 原产地：日本所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：IWATSU岩崎（岩通计测） CS-3000大功率晶体管特性图示仪，分为CS-3100/3200/3300,zui大峰值电压：3000V，zui大峰值电流：1000 A，支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA），测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数。
IWATSU CS-8000 半导体参数分析仪CS-8500 曲线图示仪日本岩崎

产品型号：CS-8500 原产地：所属类别：半导体参数分析仪

产品简介：可与多种单元组合，支持任何工序的特性评估，适用于下一代的半导体测量。搭载最大电压5kV、最大电流2kA，备有脉冲输出、门极模式、微电流测量功能，大力支持Sic、GaN等宽禁带半导体的设计评估。
高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA

产品型号：WAT-200KA 原产地：日本所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统

产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。

日本岩通计测IWATSU - 德国PMK - 牛顿N4L- GWINSTEK- 日本APOLLOWAVE - 德国 DR HUBERT 中国总代理