NF ZA57630 阻抗分析仪日本回路设计_阻抗分析仪_磁学材料与器件分析_产品信息

NF ZA57630 阻抗分析仪日本回路设计

产品型号：ZA57630 原产地：日本

所属类别：阻抗分析仪

产品简介：

测量真正的特性，从电子零件、半导体器件到材料的特性评价，应对多样的阻抗测量需求。

● 基本精度 ±0.08%
● 频率范围 10 µHz～36 MHz
● 阻抗范围 10 µΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT)

产品特点

产品参数

应用说明

功能配置

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特点：

结合用途配备丰富的功能
以最适合DUT特性的设定，支持高重现性且准确的测量
准确的评价基于实际使用的操作条件

电子零件、电子材料可能因测量频率及施加的信号级别而表现出不同的特性。电容器和电感器存在因寄生成分引发的频率依赖性，二极管等半导体器件由于 DC 偏置叠加而产生特性变化。
要评价真实的特性，重要的是频率、AC 振幅和 DC 偏置的扫频，在实际的操作条件下进行测量。

特点

● 扫频
● 延迟功能
● 标记操作
● 测量条件等的设定
● 自动高密度扫频
● 顺序测量
● 量程
● 误差校正
● 图表显示

丰富的功能

● 共振点跟踪测量
● 相对介电常数测量
● 外部基准时钟
● 等效电路估算
● 相对导磁率测量
● 存储器操作
● 压电常数计算
● 比较器 / 处理器接口

扫频频率、AC 振幅、DC 偏置、零频宽

AC 振幅扫描

AC amplitude sweep

扫频

Frequency sweep

DC 偏置扫频

DC bias sweep

零频宽

不变更频率、AC 振幅和 DC 偏置的参数，按恒定的条件进行测量，观察不同时间的特性变化（横轴：时间）

“True Value”
测量真正的特性。

▲ ZA57630

从电子零件、半导体器件到材料的特性评价，应对多样的阻抗测量需求　　　　

基本精度

频率范围

阻抗范围

测量 AC 信号级别

DC 偏置

测量时间

测量参数

±0.08%

10 µHz～36 MHz

10 µΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT)

0.01 mVrms～3 Vrms
0.1 µArms～60 mArms

−5 V ～ +5 V/−40 V ～ +40 V (1 kHz以上)
100 mA ～ +100 mA

0.5 ms/point

Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dµ,
Q, V, I, εs, εs’, εs”,µs, µs’, µs”, FREQUENCY

快速测量

实现了业界最快的0.5ms/point。
缩短生产线的节拍时间，提高测量作业的效率。
此外，通过增加设定的测量时间，使测量结果平均化，减轻噪声的影响。可视需要选择最合适的测量时间。

4种测量模式应对广泛的DUT

IMPD-3T
标准测量模式

本模式可以在广泛的频率范围内进行高精度测量。可使用测试线及测试夹具，应对各种形状的试样。

IMPD-2T
高频测量模式

本模式可以在 10MHz 以上的高频下进行稳定的测量。使用 N 型连接器进行 2 端子测量，即便配线长，也可以进行稳定的测量。

IMPD-EXT
外部扩展测量模式

本模式为外部连接放大器或分流电阻等物进行测量。
可以通过施加高压信号或检测微小电压 / 电流进行单独使用本仪器无法应对的测量。

G-PH
增益/相位测量模式

本模式可以测量滤波器、放大器等的传输特性。向被测电路施加扫描信号，高精度地测量其频率响应（增益、相位）。

正面面板测量端子

特点：

特点

扫频 频率、AC 振幅、DC 偏置、零频宽