EC-201是针对多通道SMU源表应用场景，面向二端、三端、四端器件与材料领域，可针对不同需求定制的参数分析测试软件。

可实现四线测量与四探针测量电阻，脉冲IV测试与DCIV测试。

可搭配不同领域仪器组成综合测试系统

（如搭配拉曼光谱仪实现电学光学同步测试并输出结果，搭配热板实现不同温度下的光电器件的性能测试）

可最多同时保存10个不同测试条件，并一键开始自动顺序测试。

配合HSF-200、HSF-100等屏蔽测试盒可实现为客户组成多通道SMU测试系统，实现安全准确的测试参数与数据分析功能。

可为客户搭建多通道SMU测试系统，并实现安全准确的测试不同领域材料与半导体器件参数与数据分析功能。

可自由选择几通道SMU，最多可扩展10通道。

软件内置数据分析与科学运算功能，助力研究人员更为便捷的得到想要的结果。

简单的连接与配置即可开始测试，图形化UI无学习门槛。

可搭配不同领域仪器组成综合测试系统（如搭配光谱仪实现电学光学同步测试并输出结果）

二维电子器件、二维材料、光电器件、新一代半导体、忆阻器、柔性电子等领域