源表型多通道半导体IV参数分析测试盒HSF-200 捷创自研_SMU源表_半导体材料与器件参数分析_产品信息

源表型多通道半导体IV参数分析测试盒HSF-200 捷创自研

产品型号：HSF-200 原产地：中国

所属类别：SMU源表

产品简介：

HSF-100/200测试盒是专为源表与半导体参数分析仪打造的高性能测试夹具与环境解决方案。

在实验室各种仪器电磁干扰日益复杂的环境中，科研人员常面临测试数据波动大、微小信号难以捕捉的困境、一台源表无法满足测试需求，需多台同步使用，源表需要配合如光谱仪，热冲击仪器等不同领域仪器组成复合测试系统等问题。

HSF系列测试盒屏蔽干扰、数据稳定、可配合多台源表、集成不同领域仪器则是目前解决这些问题的一个优秀的方案

产品特点

产品参数

应用说明

功能配置

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全面兼容：支持keithley全系列源表（包括2400、2600B等型号）、keysight全系列源表（包括B2900系列等型号）、国产主流源表（联讯、同惠等）。
灵活配置：提供多种接口选项，不同尺寸应用的测试盒，灵活选择多种源表，帮助您克服测试挑战，支持2线、4线（四探针）和不同类型器件与材料测试模型模式，特别适合器件特性分析与材料电阻率与其他IV测试，满足测试系统不断变化的要求。
高效测试：通过电磁屏蔽技术与低噪声回路设计优化信号路径设计，最小化噪声和信号衰减，屏蔽外界干扰，准确抓取信号，分辨率达到fA级，完美解决压电材料等要求高精度的领域
软件生态支持：可定制为科研团队不同课题打造专业测试软件，自定义，更便捷。可接入测试光电探测器、激光二极管的光学仪器如光谱仪等，组成综合分析系统。

超小体积：灵活选择测试环境，节省实验室空间，轻松集成到各类测试平台（如搭配加热部分测试激光二极管等温度相关LIV特性）。
定制夹具：针对二维材料等不同领域，可定制夹具放置于内部测试空间，简单可更换的便捷设计。
性价比出色：小成本即可提升源表抗干扰能力与测量精度，拓展已有设备的更多用途。
安全防护：测试盒提供安全测试环境，保护测试人员人身安全。INTERLOCK安全联锁设计，保护盖打开立即切断一起输出，外壳接地处理，既保证屏蔽干扰也避免测试危险！
测试稳定:源表本身灵敏度高数据稳定性差，电磁屏蔽加固定低噪声回路让稳定性大幅提升，特别适合测量压电材料与忆阻器等领域。

附录：技术规格表

参数项	指标
尺寸：LWH	HSF100(92×80×62mm),HSF200(200x235x147.5mm)
DC通道数	4（HSF100）、7（HSF200）
脉冲通道数	2（HSF100），HSF200可定制
最大电压	±200V
最大电流	±PULSE 3A (MAX)，±DC 1A MAX
噪声抑制比	>60dB（100MHz以下）
最小电流分辨率	1fA（HSF100）、 10fA（HSF200）/DC
CV测试范围	100HZ-5MHZ（200V）
工作温度范围	10℃~30℃
接口类型	可选三同轴、香蕉头、SMA接口
可选配定制软件	EC-201高精度测量系统软件
可选配夹具	1mm插针转香蕉头、鳄鱼夹、测试钩
可支持测试类型	忆阻器、柔性材料、光电探测器、激光二极管等二端、三端、四端分立器件
可支持源表、半导体参数分析仪型号	Keithley 4200ACS、2400系列、2600B系列，Keysight B1500、B1505、B1506与B2900系列源表、国产主流源表（联讯、同惠等）

忆阻器、柔性材料、光电探测器、激光二极管等二端、三端、四端分立器件、材料电阻率

定制夹具：针对二维材料等不同领域，可定制夹具放置于内部测试空间，简单可更换的便捷设计。

软件生态支持：可定制为科研团队不同课题打造专业测试软件，自定义，更便捷。可接入测试光电探测器、激光二极管的光学仪器如光谱仪等，组成综合分析系统。

系统集成：可接入柔性材料力学测试仪器、光谱仪、热板等，组成综合分析系统。