Apollowave PROBE CARD 阿波罗 高低温大电流及微波探针卡

产品型号：PROBE CARD      原产地：日本      所属类别：定制型精密探针卡

产品简介：可以根据用户要求对应4-12 inch的RF，高电压（10KV）,大电流（400A 脉冲），-60度至350度的多种参数订制型探针卡，可以匹配KEYSIGHT ，KEITHLEY，CASCADE 等 主流探针台及测试仪。

APOLLOWAVE 阿波罗 桌面型小型0-200度 IV/CV 探针台

产品型号：0-200度      原产地：日本      所属类别：便携桌面式探针台

产品简介：体积小重量轻，非常轻便甚至可以便携进行操作，可以对应IV,CV，fA级电流的测试，可以对应0-200度的温度测量。

高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA

产品型号：WAT-200KA      原产地：日本      所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统

产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。