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TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号：4200-SCS 原产地：美国 所属类别：半导体参数分析仪
产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
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TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号：4200-SCS 原产地：美国 所属类别：半导体参数分析仪
产品简介：美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元，您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
KEYSIGHT B1505A 10KV-1500A 是德功率半导体参数分析仪 Qg
产品型号：B1505A 原产地：美国 所属类别：半导体参数分析仪
产品简介：Agilent B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪是一款适合功率器件测试的综合解决方案，具有 sub-pA 至 10 kV/1500 A 的宽测量范围，并可提供精密的 µÙ 导通测量功能。此外，其 10 µs 快速脉冲功能能够执行完整的功率器件表征，并对新功率器件（例如 IGBT ）和宽带隙材料（例如，碳化硅（SiC）和氮化镓（G...
TEKTRONIX KEITHLEY 590 C-V分析仪/准静态CV
产品型号：590 原产地：美国 所属类别：CV参数测试仪
产品简介：he Keithley Model 590 CV Analyzer measures capacitance versus voltage (C-V) and capacitance versus time (C-t) characteristics of semiconductor devices. Unlike other capacitance measurement instruments, the Model 590 has been tailored to the requirements of semiconductor device testing.
高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号：WAT-200KA 原产地：日本 所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
IWATSU CS-605/603A 碳化硅器件 C-V高压5KV测试仪 日本岩崎
产品型号：CS-605/603 原产地：日本 所属类别：CV参数测试仪
产品简介：5kV（CS-605）あるいは3kV（CS-603）までの容量測定を自動化（スィープ機能付き），可以测Cies, Ciss（入力容量）、Coes, Coss（出力容量）、Cres , Crss（逆伝達容量）、 CT（端子間容量）、Cgs,Cge/Cgd,Ccg/Cds,Cce（計算値）、Rg（ゲート抵抗）
电话/TEL: 0731-85260926
传真/FAX : 0731-85263946
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