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高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号：WAT-200KA 原产地：日本 所属类别：WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介：本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的，对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试，系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试，IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
IWATSU CS-605/603A 碳化硅器件 C-V高压5KV测试仪 日本岩崎
产品型号：CS-605/603 原产地：日本 所属类别：CV参数测试仪
产品简介：5kV（CS-605）あるいは3kV（CS-603）までの容量測定を自動化（スィープ機能付き），可以测Cies, Ciss（入力容量）、Coes, Coss（出力容量）、Cres , Crss（逆伝達容量）、 CT（端子間容量）、Cgs,Cge/Cgd,Ccg/Cds,Cce（計算値）、Rg（ゲート抵抗）
电话/TEL: 0731-85260926
传真/FAX : 0731-85263946
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