Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台
产品型号:α-300 原产地:日本 所属类别:标准手动探针台
产品简介:12英寸及以下晶圆或芯片WAFER 测试
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Apollowave α-300 阿波罗 微波手动8英吋探针台
产品型号:α-300 原产地:日本 所属类别:标准手动探针台
产品简介:12英寸及以下晶圆或芯片WAFER 测试
替代是德B1505 集成电路半导体参数分析仪曲线测试仪 IWATSU CS-8000系列
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:■最大5kV,最大2000A时的高功率测试 ■精确的微电流测量 (分辨率250fA) ■大屏幕12.1英寸触摸屏 ■多种GATE信号输出功能 ■丰富的温度特性测量选项 ■在探针台上进行高功率晶片测试
Cascade TESLA300 美博 大功率12英寸半自动探针台
产品型号:TESLA 300 原产地:美国 所属类别:半自动探针台
产品简介:TESLA 系列专门为新型功率器件的开发与生产品质检查而开发,特别适合于高电压,大电流 的功率型器件和晶圆的测试方向 。
Cascade SUMMIT11000 200mm手动探针台FormFactor 8英寸
产品型号:SUMMIT11000 原产地:美国 所属类别:标准手动探针台
产品简介:FormFactor Cascade 200mm手动探针台SUMMIT11000
TEKTRONIX KEITHLEY 590 C-V分析仪/准静态CV
产品型号:590 原产地:美国 所属类别:CV参数测试仪
产品简介:he Keithley Model 590 CV Analyzer measures capacitance versus voltage (C-V) and capacitance versus time (C-t) characteristics of semiconductor devices. Unlike other capacitance measurement instruments, the Model 590 has been tailored to the requirements of semiconductor device testing.
Cascade TESLA 200 美博 大功率8英寸半自动探针台
产品型号:TESLA 200 原产地:美国 所属类别:半自动探针台
产品简介:TESLA 系列专门为新型功率器件的开发与生产品质检查而开发,特别适合于高电压,大电流 的功率型器件和晶圆的测试方向 。
IWATSU CS-8200 GaN/SiC半导体参数分析曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:采用模块式设计,电压高达2KV可调,电流达2000A 可选,最小电流分辨率优于250fA.
高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号:WAT-200KA 原产地:日本 所属类别:WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介:本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的,对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试,系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试,IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。