高温芯片可接受度测试系统 WAT-200KA
产品型号:WAT-200KA 原产地:日本 所属类别:WAT晶圆可接受度测试系统
产品简介:本系统是专门为二极管、三极管、MOSFET、IGBT、宽禁带功率器件等两端和三端功率器件的晶圆进行在片晶圆级IV/CV等电性能测试/检查,可靠性电学测试所开发的,对应TAIKO 规格晶圆并向下兼容常规晶圆与芯片测试,系统可实现MOSFET,IGBT等功率器件芯片制程中的I-V /C-V 特性检查测试,IGBT/FRD 芯片的静态特性在片测试。
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