B-H分析仪是一款专业的测试设备,主要用于软磁材料的损耗测试,如粉芯铁氧体、非晶等,对于材料研发与生产具有重要意义。店内引进的岩崎IWATSU品牌B-H分析仪,采用铁硅铝、铁氧体等优质材料,测量范围广,分辨率高达16bitmm,确保测试结果的准确性。该设备尺寸适中,操作简便,适用于各种环型、EI、EE型样品测试。
主要测量项目
B-H曲线:通过
磁通密度 (B)与磁场强度 (H)关系曲线,评估材料磁化特性 。 功率损耗(Pc):测量材料在交变磁场下的磁芯损耗
磁导率(μ):反映材料导磁能力的参数 。
具体参数
最大磁通密度(Bm),剩余磁通密度(Br),矫顽力(Hc),初始磁导率,相位角等20余项参数 。
测试方式:
CROSS-POWER方式 IEC-62044-3 国际标准测试方法
测量参数: Bm, Br, Hm, Hc,角形比(Br/Bm),振幅比导磁率(ua),铁损 (Pc、Pcv、Pcm),相位差(0), 总磁通变化(2Φm)阻抗导磁率(uZ),复式本源导磁率(m'、m''),振幅比导磁率(ua),消耗因子(tanδ),电感(L),内阻(R),阻抗(Z),品质系数(Q), 交流初始磁导率(uiac),电感(L),Q值(Q),[单位系 SI单位系]
测量频率:10Hz ~ 30MHz
最大检测电压:±200V
最大检测电流:±6A
测量模式
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