IWATSU CS-8200 GaN/SiC半导体参数分析曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:采用模块式设计,电压高达2KV可调,电流达2000A 可选,最小电流分辨率优于250fA.
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IWATSU CS-8200 GaN/SiC半导体参数分析曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-8000 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:采用模块式设计,电压高达2KV可调,电流达2000A 可选,最小电流分辨率优于250fA.
PD-200X 多用途双脉冲(DPT)器件动态参数分析系统
产品型号:PD-200X 原产地:中国 所属类别:动态参数测试系统
产品简介:PD-200X 是由捷创仪器深度开发的多用途功率器件动态参数测试分析系统,系统采用最小回路结构保证系统Ls<20nH ,模块化设备,极佳的仪器与探头兼容性,高冗余安全性确保高压大电流测试器件与人员安全。目前最具性价比的双脉冲测试系统,特别适合大学,研究,初创型半导体企业。
Keithley 2400标准系列SMU 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2400 标准系列 SMU 原产地:美国 所属类别:SMU源表
产品简介:Keithley 标准系列 2400 源测量单元 (SMU) 仪器提供四象限精密电压和电流源/负载,外加测量。每个 SMU 仪器均同时提供高度稳定的直流电源和一台真正的仪器级 6½ 位万用表。电源特性包括低噪声、高精度和回读。万用表的功能包括高重复性和低噪声。
Keithley 2601B-PULSE 10 µs 脉冲发生器/SMU 美国泰克TEKTRONIX
产品型号:2601B-PULSE 原产地:美国 所属类别:SMU源表
产品简介:System SourceMeter®10 µs 脉冲发生器/源测量单元 (SMU) 仪器将高电流/高速脉冲发生器的功能与传统 SMU 的测量及全部功能集于一台仪器中。其优异的 10 A @ 10 V 快达10 μs 脉冲宽度和全 1 MS/s 数字化功能极大地提升了从台式检定到高度自动化脉冲式 I-V 生产测试等应用的效率。