N4L 功率分析仪PPA1510/PPA1510H/PPA1520/PPA1520HC/PPA1530/PPA1530HC 牛顿
产品型号:PPA1510/PPA1510H/PPA1520/PPA1520HC/PPA1530/PPA1530HC 原产地:英国 所属类别:功率分析仪
产品简介:小体积,高性价比,主流指标参数,英国品质!
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N4L 功率分析仪PPA1510/PPA1510H/PPA1520/PPA1520HC/PPA1530/PPA1530HC 牛顿
产品型号:PPA1510/PPA1510H/PPA1520/PPA1520HC/PPA1530/PPA1530HC 原产地:英国 所属类别:功率分析仪
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N4L PPA3500/PPA3560 高精度6通道功率分析仪 英国牛顿
产品型号:PPA3560/PPA3540 原产地:英国 所属类别:功率分析仪
产品简介:PPA3500是一款高精度3~6(7)相功率分析仪,能够在各种应用中执行可靠、准确的功率分析。由于采用了创新的模拟卡设计,PPA3500 封装在紧凑的 2U 机箱中。PPA3500 提供 3、4、5 或 6 相配置以及计算的第 7 相。还可以选择将设备安装在 19 英寸机架中,提供 2U 6(7) 相解决方案,请参阅我们的附件页面了...
IWATSU SE-6000 / SE-6010光纤隔离4通道差分探头可匹配示波器日本岩崎
产品型号:SE-6000 / SE-6010 原产地:日本 所属类别:光隔离电压探头
产品简介:解决电力电子的高压浮动测试,超高压开关,变电站GIS断路器,特高压变压器等高危场景下波形测试难题。
TEKTRONIX 4200-SCS KEITHLEY 半导体参数分析仪
产品型号:4200-SCS 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:美国吉时利KEITHLEY参数分析仪4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
KEYSIGHT B1505A 10KV-1500A 是德功率半导体参数分析仪 Qg
产品型号:B1505A 原产地:美国 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:Agilent B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪是一款适合功率器件测试的综合解决方案,具有 sub-pA 至 10 kV/1500 A 的宽测量范围,并可提供精密的 µÙ 导通测量功能。此外,其 10 µs 快速脉冲功能能够执行完整的功率器件表征,并对新功率器件(例如 IGBT )和宽带隙材料(例如,碳化硅(SiC)和氮化镓(G...
IWATSU CS-3100 半导体参数分析仪 3000V@15A 曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3100/3200/3300 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:IWATSU岩崎(岩通计测) CS-3000大功率晶体管特性图示仪,分为CS-3100/3200/3300,zui大峰值电压:3000V,zui大峰值电流:1000 A,支持漏电流(LEAKAGE)测试模式(光标分辨率:1 pA),测量IGBT、MOSFET\VDMOS、三极管等功率半导体的耐压、漏电流、导通电阻、输出曲线等参数。
IWATSU CS-3300 功率半导体参数分析3000V@1000A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3300 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量,最大峰值电压3,000V(高电压模式),最大峰值电流1000A(CS-3300大电流模式),所有机型均搭载LEAKAGE模式(光标分辨率1pA),可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口
IWATSU CS-3200 功率半导体参数分析3000V@400A JEDEC曲线图示仪 日本岩崎
产品型号:CS-3200 原产地:日本 所属类别:半导体参数分析仪
产品简介:适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的静态参数特性测量,最大峰值电压3,000V(高电压模式),最大峰值电流400A(CS-3200大电流模式),所有机型均搭载LEAKAGE模式(光标分辨率1pA),可执行图像数据保存和设置数据保存的USB端口,搭载远程控制专用的LAN接口