捷创力高仪器有限公司
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日本岩崎IWATSU 软磁B-H分析仪 SY-8219 SY-8218 软磁交流特性分析仪
所属类别:软磁B-H分析仪
产品简介:磁特性的磁通密度B(以T为单位),磁场强度H(为A/m为单位)采用普遍的X-Y轴,这里被描述的曲线称为B-H曲线。作为测量B-H曲线的方法,有直流的评估方法和交流的评估方法。 我司现有连贯交流的测量方法,是交流情况下测试磁材料的B-H曲线。此项功能受到许多用户的支持。因此,现在的交流B-H曲线示踪器被确定为“B-H分析仪”。
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B-H分析仪 SY-8218的特点

1、  实现稳定高精度测量
采用标准的校准电阻,压粉铁芯等的铁损极为小的材料也有可能稳定并高精度测量。
 
2、  采集的波形资料,本产品以8192点/周速率采集的波形数据,是本公司比之过去的16倍,能够高精度地测量矫顽磁力和剩余磁通密度等。
 
3、  标准配置作业靠近脉冲励磁
可选择性地在正弦波励磁加上标准装备脉冲励磁(最大1MHz、50%占空比)。
 
4、  配置可比较参数的设置
能够比较不同测量条件下同一产品的的B-H曲线。
 
5、  装载两种类型的游标
显示任意点的测量值、导磁率用可能十字和倾斜的两种光标。一般的十字外加“倾斜游标”是只合起B B-H曲线的任意点的导磁率测量就是接受客户建议进行功能优化的,为测试提供方便。

主要规格
 
SY-8218规格
测量方式
CROSS-POWER法(依据IEC62044-3)
测量模式
B-H测量、Pc测量、u测量
测量项目(特性值)
B-H测量:
最大磁通密度(Bm),剩余磁通密度(Br),最大磁场(Hm),矫顽磁力(Hc),角形比(Br/Bm),振幅比导磁率(ua),铁损(Pc、Pcv、Pcm),电流电压相位差(q),总磁通变化(2Φm)
Pc测量:
最大磁通密度(Bm),剩余磁通密度(Br),最大磁场(Hm),顽磁力(Hc),,振幅比导磁率(ua),铁损(Pc、Pcv、Pcm),电流电压相位差(q),视在功率(VA)
u测量:
最大磁通密度(Bm),最大磁场(Hm),阻抗导磁率(uZ),复式本源导磁率(m'、m''),振幅比导磁率(ua),铁损(Pc、Pcv、Pcm),电流电压相位差(q),消耗因子(tanδ),电感(L),抵抗运动(R),阻抗(Z),品质系数(Q)
 
饱和磁通密度(Bs),顽磁力(Hc),剩余磁通密度(Br),方形比(Br/Bm)核心损失(Pc,Pcv,Pcm),振幅比导磁率(ua),相位调节(q),交流初始磁导率(uiac),电感(L),Q值(Q),[单位系 SI单位系]
 
波形
B-H 曲线,励磁电流/ 引起电压/ 磁场/ 磁通密度的波形
测量频率
10Hz ~ 10MHz(加选件最低为1HZ)
磁场信号查出
无电感电阻器两端电压降法   最大信号查出电流±6A
磁通密度信号查出
引起电压查出线圈两端电压查出法  最大信号查出电压±200v
数字分辩率
分辨率16位(8192 点/周期)
试料连接类型
2绕组法(励磁绕组,输出绕组)和1绕组法(励磁·输出绕组共享)
显示类型
彩色LCD显示(800*600dot)
电源
100v ~ 240v 50/60Hz 消耗功率约130VA MAX
品质大小
约12.5kg 420W×266H×480L 各±2mm(不含突起部)
界面
USB(资料存储)

我司(IWATSU)自1987年开始发售“磁特性检验装置  AC  SY-8617 B-H 分析仪”,在充分评估磁性材料专家、厂家等意见后,1990年推出业界公认的高频率磁特性测量标准仪器-- B-H分析仪SY-823,其性能卓越,特别是在为推动铁氧体、非结晶材料发展方面有重要贡献。
 
近年来全球能源危机越发严重,节约能源的呼声高涨,预示所有电器将进一步的低功率及小型化。电路、电源变压器、扼流线圈、电动机等是电磁产品。作为利用电磁转换的核心,软磁性材料也被强制要求高性能化。
而且,因为相对应的材料技术有很大地进步的情况下,不同类型的软磁材料功率损耗的铁损(*注)变得越来越小,所以要正确的测量就愈显困难了。
 
SY-8218用符合IEC标准承认的测量方式,精密的测试组件,保证基本测量中能够减低测量误差,并提供高精度稳定的铁损测量。
*注:铁损
 
铁损是磁性材料本身丢失的电能,大致分为下面3类:
1、  磁滞损耗  2、涡流损耗  3、剩余损耗
磁滞损耗是指铁磁材料作为磁介质,在一定励磁磁场下产生的固有损耗;(在电能转换磁能过程中所产生的损耗);涡流损耗是指磁通发生交变时,铁芯产生感应电动势进而产生感应电流,感应电流呈旋涡状,称之为涡流;感应电流在铁芯电阻上产生的损耗就是涡流损耗;剩余损耗是指除磁滞损耗和涡流损耗以外的损耗,由于所占比重较小,也可忽略不计。

BH 分析仪+ 功率放大器 + 高低温全自动测试系统

选件表

DC Bias Power Supply

SY-931

Suitable for evaluation of minor loop loss under DC bias.


Current putput : 10A max, 1mH
Frequency : 1MHz max

SY-931

Single Plate Measurement Jig*

SY-937

For μ,iron loss and B-H curve measurement of silicon steel plates which are used for motors, solenoids, actuators and sensors.


Sample size : Thickness 0.2mm to 1.0mm
Width 10mm to 30mm
Length 60mm or more
Measurement frequencies : 50Hz, 60Hz


*SY-8218 / SY-8219 connection adaptor under development

SY-937

Constant Temperature Chamber Scanner System / Turntable

SY-320 / SY-321

For evaluation of temperature characteristics of agnetic material.
Automatic measurement by the SY-810 (option oftware) can be performed.


Temperature range : -30℃ to +150℃
Max. number of samples 20 : SY320
Max. number of samples 41 : SY-321
GPIB interface for remote control

SY-320

SY-510 / 511

For automatic measurement of multiple samples.


Max. number of samples 20 : SY-510
Max. number of samples 41 : SY-511



SY-511

Power Amplifier

HSA4101-IW

For excitation of measurement samples.


DC to 10MHz, ±1A, ±70V, 50VA



HSA4101-IW

HSA4014-IW

For excitation of measurement samples.


DC to 1MHz, ±5A, ±75V, 200VA



HSA4104-IW

IE-1125

For excitation of measurement samples.


DC to 3MHz, ±5A, ±140V, 350VA

IE-1125

Temperature chamber for measuremant of magnetic properties in high temperature

IE-1210  High temperature chamber system.


Room temperature to +300℃

IE-1120

USB-GPIB conversion adaptor SY-509

(Standard accessory for SY-810)

SY-509

PC Software SY-810

Automatic programmable measurement software.

(included SY-509 and Bulk Head [female tofemale] Adaptor)
*PC software SY-810 requires an optional control PC with USB-GPIB interface manufactured by Mational
lnstruments.

SY-810

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