什么是频率响应分析仪？环路分析仪？波特图-增益与相位分析

2022-11-27 464

什么是频率响应分析仪？频率响应分析仪 （FRA） 是一种高精度测量仪器，用于分析频域中的组件、电路和系统（称为被测设备或 DUT）。FRA 通常产生正弦信号并将其注入被测组件、电路或系统中。该信号在注入点使用FRA上的输入通道之一（通常是通道...

​高频高压差分探头的 CMRR为什么这么重要，共模抑制比 (Common Mode Rejection Ratio)是什么 ？

2022-09-21 319

CMRR，共模抑制比 (Common Mode Rejection Ratio)CMRR是指去除具有两个输入电路的差分放大器所共有的输入信号（噪声分量Vn）的能力。当电网电源信号 (In) 等流经接地电路时，会产生噪声信号 (Vn)，并将其作为同相分量施加到差分放大器。但是...

开尔文四线法、4探针法、范德堡法，陈存礼法测量电阻相关参数的应用区别

2024-11-28 48

在测量电阻相关参数中，工程师们可能听过开尔文4线法测量电阻，4探针法测量电阻率还有范德堡法测量与陈存礼法等等。诸多方法眼花缭乱，往往此时工程师们就很难很快的选择出正确的测试方法。

常见四种可靠性测试基础知识

2024-11-28 28

可靠性测试就是为了评估产品在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。

电子辐照加速器种类,与典型应用（半导体材料与器件辐照条件下电特性异变）

2024-06-13 44

电子辐照加速器种类繁多，性能用途各异，就按其能量范围和主要应用，可分为3类：　　（1）低能（0 1 MeV - 0 3 MeV）加速器：代表类型是电子帘加速器，它是一种高压型加速器，没有加速管和扫描装置，体积小、外型规整、具有自屏蔽功能，结构...

SiC器件-芯片可靠性之经时介电层击穿（Time Dependent Dielectric Breakdown,TDDB）测试

2024-06-12 157

当栅氧化层在偏压条件下工作时，其漏电流会逐渐增加，最后导致击穿，从而使栅氧化层失去绝缘功能。一般情况下，栅氧化层的可靠性测试是在恒定电压下进行的，这种失效模式被称为时间相关的介电层击穿(TimeDependentDielectricBreakdown,TDDB)。非本...