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APOLLOWAVE 探针台对应射频,微波,电子材料,光电器件,功率器件,集成电路,功能材料的性能分析。 |
发布日期:2018-8-30 点击次数:1506 |
APOLLOWAVE 精密探针台产品可以在-60摄氏度至350度之间对应 RF射频,微波,电子材料,光电器件,功率器件,集成电路,功能材料的性能分析。
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1/f噪音,RNT测试
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脉冲I-V测试,超高速I-V测试
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高电流测试(脉冲电流可到200A)
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高压测试(~10KV)
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静电放电(ESD)评估
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故障分析
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电磁激励测量
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光电(VCSEL,PD等)测量
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芯片可靠性测试(EM/TDDB/HCI/NBT/BT)
解决方案:
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宽禁带半导体功率器件,高压(最高20KV),大电流 (最大800A),高低温(-60至350度)条件下对器件的IV/CV进行评价的方案。
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晶圆级低频噪声解决方案
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半导体抗辐照解决方案
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芯片可靠性测试 (EM/TDDB/HCI/NBT/BT)
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微波器件性能测试与建模分析方案
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MEMS 器件性能测试方案
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太阳能光伏器件I-V/C-V评价方案
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光电器件/晶圆性能评价方案
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太赫兹器件和晶圆评价方案
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负载牵引系统评价方案
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