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| APOLLOWAVE 探针台对应射频，微波，电子材料，光电器件，功率器件，集成电路，功能材料的性能分析。 |
| 发布日期：2018-8-30 点击次数：544 |
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APOLLOWAVE 精密探针台产品可以在-60摄氏度至350度之间对应 RF射频，微波，电子材料，光电器件，功率器件，集成电路，功能材料的性能分析。
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1/f噪音，RNT测试
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脉冲I-V测试，超高速I-V测试
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高电流测试（脉冲电流可到200A）
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高压测试（~10KV）
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静电放电（ESD）评估
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故障分析
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电磁激励测量
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光电（VCSEL，PD等）测量
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芯片可靠性测试（EM/TDDB/HCI/NBT/BT）
解决方案：
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宽禁带半导体功率器件，高压（最高20KV），大电流 (最大800A)，高低温（-60至350度）条件下对器件的IV/CV进行评价的方案。
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晶圆级低频噪声解决方案
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半导体抗辐照解决方案
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芯片可靠性测试 （EM/TDDB/HCI/NBT/BT）
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微波器件性能测试与建模分析方案
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MEMS 器件性能测试方案
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太阳能光伏器件I-V/C-V评价方案
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光电器件/晶圆性能评价方案
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太赫兹器件和晶圆评价方案
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负载牵引系统评价方案
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